Рентгеноструктурный анализ, метод исследования вещества, основанный на явлении дифракции рентгеновских лучей (эл.-магн. излучение с длиной волны 10-4—102 Å). На дифракц. картине, возникающей в результате взаимодействия лучей с веществом, наблюдают чувствительное к структурным особенностям рассеивающего объекта когерентное и некогерентное (диффузное) рассеяние рентгеновских лучей. Р.а. позволяет определить структуры объекта по его дифракц. картине. Применяют для изучения состава, расположения и процессов перестройки атомов в кристаллах, диаграмм состояния сплавов, распада пересыщенных тв. растворов, определения внутр. напряжения, размеров и предпочтительной ориентации (текстура) кристаллитов и др. Рентгеновская дифракц. микроскопия (рентгеновская топография) позволяет исследовать мозаичную структуру кристаллов, выявлять дислокации, уточнять размеры субструктурных составляющих и их разориентировку, тип субзёренных границ. В Башкортостане Р.а. развивается с кон. 60-х гг. 20 века. В Ин-те геологии и ВНИИСПТнефть под рук. К.М.Ямалеева проводились иссл. состава руд, минералов, диффузного рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами, результаты использованы для повышения надёжности и долговечности трубопроводов (В.М.Агишев, Ямалеев). В 70-е гг. в БГУ методом Р.а. изучены структура и св-ва магн. материалов (Х.Я.Мулюков, В.В.Парфёнов, К.В.Парфёнов). В 80-е гг. в ИПСМ (Б.Ф.Абдуллин) впервые при иссл. наноструктурных материалов применён Р.а.; установлена структура хим. соед., синтезированных в БГУ. Методами Р.а. и рентгеновской дифракц. микроскопии изучена дефектная структура синт. монокристаллов кварца, создан способ его получения с высокими пьезоэл. св-вами; показано, что организованная определ. образом высокоразвитая дефектная субструктура кварца повышает радиотехн. св-ва (добротность) изготовл. из него резонаторов (Р.М.Мазитов); определено уменьшение (на 19—21%) значения температуры Дебая в наноструктурной меди по сравнению с крупнокристаллич. образцом (И.В.Александров, Мазитов и др.); установлена взаимосвязь между типом кристаллографич. текстур и возможным спектром разориентировок границ зёрен (А.П.Жиляев, АЗА.Пшеничнюк). В УГАТУ (Александров, А.А.Дубравина, А.Р.Кильмаметов) развиты методы анализа общего вида эксперим. рентгенограмм, расчёта размеров областей когерентного рассеяния и упругих микроискажений кристаллич. решётки с учётом дислокац. контраста, исследована и проанализирована преимуществ. кристаллографич. ориентировка зёрен в металлах в ходе пластической деформации и формирования объёмных наноструктурных состояний. В БГУ (Р.Ф.Альмухаметов, Р.А.Якшибаев) Р.а. применён для иссл. суперионных проводников, структуры и магн. св-в материалов; ИФМК (Ю.А.Лебедев) — структуры и св-в частично упорядоч. веществ и полимеров; ИПСМ (В.Н.Даниленко) — металлов и сплавов в наноструктурном состоянии; ИНК (Л.М.Халилов, Я.Л.Шестопал) — наноструктурных цеолитсодержащих катализаторов. В СГПА (Н.Н.Биккулова) методами упругого рассеяния нейтронов и рентгенографии ведутся иссл. структурных особенностей селенидов меди нестехиометрич. составов. См. также Кристаллохимия, Металлофизика.
